Rigaku Corporation, socio global de soluciones en sistemas analíticos de rayos X y empresa perteneciente al grupo Rigaku Holdings Corporation (en adelante, “Rigaku”; sede central: Akishima, Tokio; CEO: Jun Kawakami), anunció el lanzamiento de ONYX 3200, un nuevo sistema de metrología para semiconductores destinado a medir el espesor de película, la composición y las estructuras de bumps* (protuberancias) en procesos realizados directamente sobre la oblea. El sistema está diseñado para ayudar a ...