JEOL Ltd. (presidente y director ejecutivo: Izumi Oi) anuncia el desarrollo de su nuevo microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo, HAXIS, cuya comercialización comienza el 5 de octubre de 2026. Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: https://www.businesswire.com/news/home/20260928097770/es/HAXIS Low-angle Ion Milling Scanning Electron Microscope Microscopio electrónico de barrido con bombardeo iónico de ángulo bajo HAXIS An...